![](/phy/labore/physikmaterial-elektronenmikro/images/images_beispiele/Wendeschneidplatte-_SE-EDX.jpg.scaled/9405993720c2aa7991cf504d314cf280.jpg)
TiNAl-Beschichtungsfehlstelle einer WCC-Wendeschneidplatte (Probe: Prof. Dr.-Ing. Rinker, FH-Münster)
Hartmetalle werden zur Verbesserung der Eigenschaften (Wärmebeständigkeit und Verschleiß) mit Hartstoffen beschichtet.
Fehlstellen in der Beschichtung können mit Hilfe der Rasterelektronenmikroskopie in Verbindung mit der sog. EDX-Analyse begutachtet werden.
Hier: Fehlstelle in einer beschichteten Hartmetallwendeschneidplatte (Sekundärelektronenabbildung und EDX-Spektren).