Die Elektronenmikroskopie stellt eine der vielseitigsten und wirkungsvollsten Analysemethoden im Bereich der Materialcharakterisierung und Oberflächenanalyse dar, die zur Entwicklung neuer Werkstoffe, insbesondere im Bereich der Nano-Technologie unverzichtbar geworden ist. Je nach Fragestellung kommen aber auch andere Verfahren zur Oberflächenanlayse bzw. Charkaterisierung zum Einsatz. Unsere Expertise liegt im Bereich der Elektronenmikroskopie (REM und TEM) sowie der Mikrobereichsanalyse (EDX) und der Kathodolumineszenz (KL) , der Lichtmikroskopie (LM) mit Bildanalyse sowie der 3D-Konfokalmikroskopie (KLM) und der Rasterkraftmikroskopie (AFM). Einige Untersuchungsbeispiele sind im Folgenden aufgelistet.