Materialsynthese
- Gefriertrocknungsanlage (Christ)
- Sprühtrockner (Buechi)
- Hochtemperaturofen (bis 1800 °C, Nabertherm)
- Kalt-isostatische Presse (CIP = cold isostatic press, bis 360 MPa, PO Weber)
- Elektrohydraulische kalt-uniaxiale Presse (CUP = cold uniaxial press, bis 1000 MPa, PO Weber)
- Hochvakuumapparaturen bis 10-7 mbar (u.a. Ilmvac)
- Hydrothermal-, Hochdrucksynthesen (Autoklaven bis 400 °C, 500 bar, Parr, Roth)
- Thermische Hochvakuum-Aufdampfanlage (Pfeiffer)
- Glovebox (Saffron)
- Spincoater (Convac)
- Photochemische Bestrahlungsapparaturen, Tauchlampen (Heraeus)
- Kugelmühlen, Schleif- und Polierapparatur
- Thermische Materialbehandlung, Synthese bis 1800 °C
- Rotationsverdampfer, Konduktometer, Coulombmeter, pH-Meter, Trockenschraenke, Zentrifugen, Ozonisator, ...
Materialcharakterisierung: optische Eigenschaften
- UV-VIS Spektroskopie 190-1100 nm (Ocean Optics)
- Reflexions-, Anregungs-, Emissionsspektroskopie VUV-NIR (120-1100 nm, Acton, Edinburgh Instr., Shimadzu)
- Abklingzeitmessung bis ca. 10 µs (Edinburgh Instr.)
- Lichtquellen (Xe-Lampen bis 450 W, UV-Lampen 254, 312, 366 nm, Deuterium bis 20 W)
- Diodenlaser 808 nm, 980 nm
- Photodegradation (Mueller Optik, Acton MM1 CCD, Nikon-Optik)
- FTIR-Spektroskopie (Perkin-Elmer)
- Mikroskopie mit Videoauswertung (Polarisation, Auf- / Durchlicht, Olympus, Nikon)
- Photoelektrochemische Charakterisierung (Solartron): u. a. Impedanzspektroskopie, Cyclovoltammetrie, Polarisationskurven
- Polarimetrie
Materialcharakterisierung: Stoff- und Struktureigenschaften
- Röntgengenerator mit Pulverdiffraktometer
- Kalorimetrie (Polytec)
- Korngrössenanalytik 0.6 nm - mm (dynamische Lichtstreuung und Laserbeugung, Malvern, Cilas, Siebanalyse)
- Mikroskopie mit Videoauswertung (Polarisation, Auf- / Durchlicht, Olympus, Nikon)
- DTA und Thermogravimetrie (Netzsch)
- Hg-Porosimetrie (Pascal Instr.)
- Schichtdickenmessung (Tencor Instr.)
- C,S-Analysator (Eltra)
Optische chemische Sensorik
- Faseroptischer Sensor: Ocean Optics Neo Fox (Phasenfluorimetrie)
- Faseroptisches Spektrometer: Ocean Optics HDX
- Fluoreszenz-Lifetime-Imaging-System mit zeitlicher Auflösung im µs-Bereich
- Absorptions- und Fluoreszenz-Multifunktionsreader Tecan Spark
- Fluoreszenzspektrometer mit Integrationskugel Perkin Elmer FL 8500
- Rasterkraftmikroskop AFM Nanosurf
- Optisches Druck- und Temperatur-Kalibriersystem
Laserentwicklung
- 5 schwingungsgedämpfte optische Tische
- Spektralphotometer PerkinElmer Lambda 1050 mit umfangreichem Zubehör
- Optischer Spektrumanalysator HP 70950 A
- Elektrischer Spektrumalanalysator HP, bis 22 GHz, diverse Module
- Manueller Ball-Wedge Wirebonder, West Bond 5700er Serie
- Monochromator von Jobin Yvon
- Diodenlasertreiber
- Oszilloskope von LeCroy und Tektronix
- Räumlicher Lichtmodulator von Holoeye Photonics AG
- Faraday-Rotator von Linos, 500 - 1000 nm
- Laser: Nd:YAG 1064 nm, Nd:YVO4 1064 nm, MISER, HeNe, Diodenlaser
Lasermaterialbearbeitung
- Hochleistungslaser von 0.1 - 2.5 kW: Excimer-, Nd:YAG-, Faser-, CO2-, Halbleiter- und Thulium-Laser
- Ultrakurzpulslaser: Yb -Yag-Laser mit 8 ps, 50 W
- Laser für Messaufgaben: HeNe, Argon-Ionen, Halbleiter
- Multiachssysteme zur Positionierung und Relativbewegung
- Laserschutzkabinen von 2 bis 10 m3
- Strahlprofilanalyse Thorlabs M2-Box / Coherent LaserCam-HR 2
- Wellenfrontsensor Thorlabs WFS-5C/M
- Leistungsmessköpfe für Laserstrahlung vom nW bis kW
- Spektrometer für UV / VIS / NIR, Ocean Optics HR 2000 and HR 2000+
- Oszilloskope von Pico Technology und Tektronix
- Optisches Lichtmikroskop 50-1000x, Olympus BX 60 und SZX 9
- Chromatische Topografievermessung, Precitec CHRocodile ...
- SLA 3D-Druck mit Reinigungs- und Aushärtungsmodul, Formlabs Form 2
Charakterisierung optischer und photovoltaischer Systeme
Photovoltaik
- Solarmodulflasher (Klasse AAA) zur Leistungsmessung von Solarmodulen unter Standardtestbedingungen (STC)
- Peakleistungsmessgerät, PV-Engineering PVPM-1000C zur Charakterisierung von Solarmodulen und kompletten Solarstrings
- Solarmodulsimulatoren der Fa. PV-Engineering
- PV-Installationstester und Kennlinienmessgerät BENNING PV 2
- Outdoor-Referenz-Solarzelle RS-OD-3 des Fraunhofer ISE-Instituts
Faseroptische Messtechnik
- Optical Time Domain Reflectometer, Wavetek MTS-5200, Monomode- und Multimode-Betrieb, Wellenlängen 850, 1300, 1550 nm
- Spleissgerät, Ericsson FSU-925 RTC, Multimode- und Monomodefasern, Typische Spleissdämpfung < 0,1 dB
- Optischer Spectrum Analyser, HP-70951A, Wellenlängenbereich 600 - 1700 nm, Auflösung 0,1 nm
- Spektrometer Ocean Optics, Wellenlängenbereich 400 - 1100 nm
- 3-Achsen-Micromanipulator, Melles Griot, Auflösung 0,1 µm
- Diverse Laserdiodenansteuerungen
- Diverse Optische Powermeter
- Parameteranalysator Agilent 4155B zur rauscharmen Aufnahme der Strom-/ Spannungskurven von Solarzellen in allen 4 Quadranten
Sensormesstechnik
- Diverse Sensoren (Abstand, Feuchte, Druck etc.)
- Messaufnahmesysteme National Instruments